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IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性大會
日期：2025-06-15 08:45
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摘要：
IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性大會
IPFA 2009IEEE國際半導體失效分析與可靠性邀請函在科技日益更新的當今社會，產品的失效分析和可靠性日漸被關注，產品出現(xiàn)可靠性與質量問題后要進行專業(yè)的失效分析才能幫助產品有更好的品質提升，因此涌現(xiàn)出對失效分析與可靠性高水平技術人才的大量需求。
IPFA是半導體領域失效分析與可靠性的國際**會議。為培養(yǎng)失效分析與可靠性技術人才，滿足國內外半導體方面專業(yè)人員技術提高的愿望，建立國際相關行業(yè)信息與技術交流平臺，解決相關企業(yè)遇到失效分析與可靠性問題時的疑點和盲區(qū)、打破理論與實際脫鉤的窘境、達到失效現(xiàn)象與失效原因直接掛鉤、提高產品可靠性的效果，我們特決定在蘇州舉辦此次面向國際的IEEE國際半導體失效分析與可靠性培訓。
本次培訓特別邀請15位來自中、美、歐洲、新加坡、日本及亞太其他各國及地區(qū)專家作培訓講座與技術交流，具體事宜通知如下：
時間：2009年7月6日-10日蘇州獨墅湖高教區(qū)
參加對象：失效分析工程師、可靠性工程師、研發(fā)與工程技術人員、質量工程師、工藝工程師、制造工程師、設計工程師、供應商管理工程師、研發(fā)/工程/采購/質量經理、研究員、相關專業(yè)教授、博士生、研究生等。
承辦執(zhí)行單位：華碧檢測（FA LAB）
承辦執(zhí)行**協(xié)助單位：北京懷遠文化傳媒有限公司
培訓證書：IEEE IPFA2009技術委員會培訓證書/中國電子電器可靠性工程協(xié)會培訓證書
注：IPFA2009介紹
第16屆IEEE國際集成電路物理與失效分析會議（IPFA2009）由IEEE南京分會主辦，IEEEReliability/CPMT/ED新加坡分會協(xié)辦、由IEEE 電子器件協(xié)會與IEEE可靠性協(xié)會提供技術支持。IPFA2009是在中國舉辦的有關集成電路與器件方面規(guī)模*大、影響*大的國際會議。會議將為期五天，包括兩天的技術培訓講座、三天的論文發(fā)表與研討技術交流，同時并行三天的設備展覽。
注:詳細內容和報名表請郵件或電話索取資料.
如果您需要咨詢，請聯(lián)系IPFA 2009組委會秘書處，郵箱：hywh@ceeacea.org.cn 或者致電010-67642668，010-52259806. 歡迎登陸網址：http://www.ceeacea.org.cn 以寄信日期，發(fā)送郵件或傳真日期為準。
